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2016-07-09 13:59:36 |
快溫變試驗(yàn)箱的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：
①GJB 1032-1990 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法；
②GJB 150.3-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)；
③GJB 150.4-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)；
④GB 6587.2-1986 電子測量儀器溫度試驗(yàn)；
⑤GB/T 2423.22-2008 idt IEC 60068-2-14:1984 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化；
⑥GB/T 2423.2-2008 idt IEC 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫；
⑦GB/T 2423.3-2006 idt IEC 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；
⑧GB/T 2423.1-2008 idt IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫；
⑨GB/T 2423.4-2008 idt IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)(12h+12h循環(huán))；
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